未知物成分分析-復雜未知物剖析

中國科學院廣州化學研究所分析測試中心

事業部---卿工--13113316131

　　中科院專業成分分析，未知物成分分析中心，第三方檢測中心

　　未知物剖析是指從未知物的剖析需求出發，綜合考慮并采取不同的分離、提純的物理、化學的技術和方法將未知物樣品中的各個組分分離開并進行純化，然后分別采用不同的分析儀器設備對其進行分析、鑒定并終確定其未知樣品的名稱、含量的方法。

　　在科技日益發展的今天，未知物剖析可以在各行各業發揮著重大作用：

　　1未知物剖析為科研機構的進一步研究提供事實依據；

　　2未知物剖析可以為工廠的產品配方研究、產品開發提供科學依據、為企業管理層做決策提供重要的參考信息；

　　3未知物剖析可以為工業生產改進完善生產工藝提供重要的科學指引；

　　4未知物剖析為企業引進、消化吸收再創新提供有力的科學依據及強大的技術支撐。

· 光學顯微鏡(OM)檢查

· 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)

· 俄歇電子能譜 (AES, Auger)

· X射線光電子能譜/電子光譜化學分析儀(XPS/ESCA)

· 二次離子質譜(SIMS)

· 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)

· X射線熒光分析(XRF)

· 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡(AFM)

· 激光共聚焦顯微鏡(CLSM)