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1、HJRD33導波雷達物位計產品概述：
HJRD33導波雷達物位計是采用微波技術來檢測料位的高科技產品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對惡劣環境及被測物料適應性強等特點，采用上先進的大規模集成電路，利用雷達原理、數字信號處理技術和快速傅里葉變換（FFT）技術。采用連續式乍動測量，能測量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測距遠、精度高等特點。
HJRD33導波雷達物位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環境的要求。該產品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發性氣體等惡劣環境。可對不同料位進行連續測量。該儀器主要技術指標達到或優于國內外同類產品,且安裝調試簡便，可以單臺使用，也可組網使用，可廣泛應用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業。
HJRD33導波雷達物位計是采用微波技術來檢測料位的高科技產品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對惡劣環境及被測物料適應性強等特點，采用上先進的大規模集成電路，利用雷達原理、數字信號處理技術和快速傅里葉變換（FFT）技術。采用連續式乍動測量，能測量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測距遠、精度高等特點。
HJRD33導波雷達物位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環境的要求。該產品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發性氣體等惡劣環境。可對不同料位進行連續測量。該儀器主要技術指標達到或優于國內外同類產品,且安裝調試簡便，可以單臺使用，也可組網使用，可廣泛應用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業。
2、HJRD33導波雷達物位計技術參數:
應 用：液體、固體粉料
測量范圍：30米
過程連接：法蘭
過程溫度： -40~250℃
過程壓力：-0.1~2MPa
精 度： ±3mm
頻率范圍：100MHZ-1.8GHZ
防爆等級：Exib IIC T6 Gb
防護等級：IP67
信號輸出：4—20mA/HART（兩線）
應 用：液體、固體粉料
測量范圍：30米
過程連接：法蘭
過程溫度： -40~250℃
過程壓力：-0.1~2MPa
精 度： ±3mm
頻率范圍：100MHZ-1.8GHZ
防爆等級：Exib IIC T6 Gb
防護等級：IP67
信號輸出：4—20mA/HART（兩線）
3、HJRD33導波雷達物位計使用說明：
測量原理
HJRD33導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。
輸入
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別
出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應用參數來設定，應
用參數將自動使儀表適應測量環境。對應于 4－20mA輸出。
測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區
K---- 探頭到罐壁的小距離
頂部盲區是指物料高料面與測量參考點之間的小距離。
底部盲區是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離。
測量原理
HJRD33導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。
輸入
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別
出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應用參數來設定，應
用參數將自動使儀表適應測量環境。對應于 4－20mA輸出。
測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區
K---- 探頭到罐壁的小距離
頂部盲區是指物料高料面與測量參考點之間的小距離。
底部盲區是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離。
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